X射线荧光光谱材料分析仪

X射线荧光光谱材料分析仪WDX400：

粉体样品或块样品快速，非破损分析。

可快速分析粉末压片，玻璃熔片和块状物料。

采用多路数字MCA实时检测，大大提高元素检测效率谱峰，不仅便于仪器调试和故障诊断，

并可进一步提高仪器的分析精度和稳定性。

配置充氦装置后可以分析液体样品或易挥发性固体样品。

与顺序型大功率仪器相比较有如下优点：

a、在较小功率和测定时间基本相当的情况下即可达到足够的分析精度。

b、延长X光管使用寿命。

c、减少高压电源故障。

d、降低整机维修成本。

e、采用固定通道，无测角仪磨损问题。

X射线荧光光谱材料分析仪WDX400技术指标

高压电源：400W（50kv/8mA）。

X射线管：Varian公司生产的400W薄铍窗端窗X射线管，Rh靶（Pd靶可选）。

管压管流12小时稳定度：优于0.05%。

分析元素种类：从Na到U的任意十种元素。

探测器：流气正比探测器+封闭正比探测器，10路1024道独立脉冲高度分析器。

真空系统：独立泵站结构，易于维护。

测量室高真空度：低于5Pa。

流气系统：高精度流气密度稳定装置，压力稳定度达到±0.003KPa。

前主放：高速前主放电路，大大提高仪器的探测效率，提高仪器的测量精度。

MCA多道：采用数字MCA多道幅度采集器，大大提高检测效率。

交流220V供电设备：1KVA交流净化稳压电流。

分析精度：σn-1（24小时，百分比含量）≤0.05%。

单个样品测量时间：（含换样抽真空时间）≤3～5分钟。

恒温室温度控制精度：设定值±0.1℃。

应用领域

建材（水泥、玻璃、陶瓷等）

钢铁

有色金属

矿业

地质

化工

石油

质量检验

商品检验