大豆表型检测仪/系统是一款利用图象来分析大豆表型相关性状的检测系统，可以测量大豆夹角、茎粗、总粒数和千粒重等指标，这些高通量表型参数为大豆品种筛选、产量预测、基因定位、功能解析等方面发挥着至关重要的作用。大豆育种研究中，大豆表型参数和大豆产量、品质、抗逆性等密切相关，进而获取这些参数也显得尤为重要，因此我们推出了大豆表型检测仪。广泛适用于各农科院、高校、育种公司、种子站的大豆研究

作物夹角茎粗测量仪是用于测量小麦、水稻、油菜等作物夹角、茎粗的专业测量仪器，可在离体或活体情况下测量小麦夹角和茎粗数据，拍照3秒即出结果，可先拍照后批量处理。仪器采用压板和转轴柄一体式连接，方便固定作物茎部，减少风吹草动对作物角度拍摄的影响。

TPS-BX-1水稻表型检测仪/系统可测量水稻亩穗数、理论产量、水稻穗粒数、穗长、水稻剑叶夹角、茎粗、水稻株高、一/二次枝梗数量和长度、各枝梗对应的穗粒数、着粒密度、穗长、总粒数和千粒重等指标，这些表型参数为水稻品种筛选、水稻产量预测、稻穗动态发育、基因定位、功能解析和水稻遗传育种中发挥着至关重要的作用。

玉米表型检测仪/系统不仅可以测量凸包面积、外接矩形面积、长宽比、侧视角紧凑度、侧视角投影面积、株高、茎秆节间距和茎粗、叶长、叶片弯曲度、茎叶夹角和千粒重等指标，这些高通量表型参数为玉米品种筛选、产量预测、基因定位、功能解析等方面发挥着至关重要的作用。

小麦表型检测仪/系统可测量小麦株高、夹角、茎粗、小麦亩穗数、理论产量、穗长、小穗数、总粒数和千粒重等指标，这些表型参数为小麦品种筛选、小麦产量预测、麦穗动态发育、基因定位、功能解析和小麦遗传育种中发挥着至关重要的作用。