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内部应变检查装置▶可观测纹理，加工应变等，样品内部的应变的装置。▶可把内部应变的分布和变化录像。
样品特性测定装置▶任意偏光光源，样品保持机构，偏光测定装置的组合，可完成样品的特性的测定。▶可构建透过型或反射型。▶反射型即可测偏光特性，也可用作椭圆偏振光法（Elipsometry）。
偏光测定装置▶计测和解析入射光束偏光状态的装置。▶可求入射偏光的斯托克斯参数S0〜S3。
万能偏光光源▶在光源的后方设置偏光操作尊龙凯时系统，可输出任意偏光状态的光束。▶可选择直线偏光，圆偏光，椭圆偏光以及长短轴比例，转动方向等。▶可用计算机动态控制。便于评估具有偏光依存性的样品，或在光路后部进行偏光补偿。
分光镜组件︱DTM-PSM33-30C03-10W-550用于斐索干渉仪参考面的分光镜组件。为了得到更好的干渉条纹的对比度，其反射透过比被设定为１：２了。
精密透镜架组件︱TAT-AD20-TSD-40801S固定被検凹面样品，并可精密调整的组件。 被检凹面镜外径：φ20mm 厚度：～6mm
微小样品架组件︱DTM-MLF-SF借用了Selfoc®镜夹的夹持微小样品的组件。 样品尺寸范围：φ15～φ3mm
光路切替反射镜组件︱TFA-30C05-10-TSD-40801S使用大行程的平台，可实现镜架避让出光路的组件。
可动反射镜组件︱TFA-30C05-10-TSD-401S使用平台，在垂直方向调节反射镜，可改变光路长的组件。 调整范围：±6.5mm
透镜组件︱DTM-SLB (or DLB)可选用外径φ15mm和φ10mm的单透镜或消色差透镜的组件。如选用了镜架MLHC-10R，会和φ20mm的立柱干渉。但在其间插入2个垫片即可。
PBS组件︱DTM-PBS-20-6328实现水平偏光和垂直偏光的合成，或分离的组件。 波长范围：632.8nm
1/4（或 1/2）波长板组件︱DTM-WPQ-6328-4M (or -2M)使用波长板改变偏光状态的组件。1/4波长板可将直线偏光改变为圆偏光，1/2波长板可改变偏振方向。 適応波長：632.8nm
C型接口摄像头组件︱DTM-CMH使用了USB接口的彩色摄像头组件。可将图像传送给计算机。附带有摄像头位置调整，调焦机构。容易替换为其他型号的C接口摄像头。
成像镜组件︱DTM-SLB-30-50PM将样品成像到摄像器件，或汇聚到传感器的组件。 焦距：50mm 通光口径：φ27mm
平板半透半反镜组件︱DTM-PSMH-30C03-10-550平板半透半反镜可实现透过光对反射光1：1的分光。 源于玻璃厚度的色差和球差小。
立方体半透半反镜组件︱DTM-HBCH-20-550宽带立方体半透半反镜组件。可实现透过光对反射光1：1的分光。此分光比不受入射光的偏光状态的影响。
调整光量或偏光方向的组件。 消光比：10-4
反射镜组件︱DTM-TFA-30C05-10采用了高面精度反射镜的，实现光路90度转弯的组件。可将光轴位置调整到反射镜中心位置。
激光组件︱DTM-05-LHP-111可干渉性很好的直线偏光氦氖激光器组件。 波长：632.8nm 功率：1mW 光束高度，角度可调
使用了1/4波长板和PBS的偏光迈克耳逊干涉仪，可测试半导体激光器的背景光的可干涉长度。首先使用He-Ne激光光源，调整好干涉仪，然后使用平台把反射镜移开，入射一束准直的半导体激光束。使用偏光板过滤掉激光成分，仅让背景光到达摄像头。一点一点地耐心调试可动反射镜找到出现干涉条纹的位...
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