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Olympus测厚仪的设置方法和校准方法
点击次数:6504 更新时间:2019-09-04
Olympus测厚仪可以使用所有单晶和双晶探头进行操作。Olympus测厚仪会自动识别标准双晶探头,还会自动导入适当的顶先定义的设置。预先定义的设置中包含随仪器附送的不锈钢阶梯试块的超声声速。在使用双晶探头时,需要进行探头零位补偿。对于单晶或高穿透软件选项,以及单晶探头,需要手动调用适当的设置。测厚仪出厂时已根据用户所购探头配置了默认设置,这些设置使用随机附送的不锈钢试块的大约声速。为便于用户使用,Olympus测厚仪中的默认状态已被选好。
Olympus测厚仪校准:
校准是使用已知探失,在特定的温度下,针对某种材料,以进行测量为目的而对仪器进行调整的过程。在检测某种特殊材料之前,经常需要校准仪器。测量度与仪器进行校准时的度*相同。
需要进行以下三种类型的校准:
探头零位补偿〔[零位补偿]键)
只用于双晶探头,校准声束在每个双晶探头延迟块中的传播时间。这个补偿值针对不同的探头有所不同,且随温度而变化。启动测厚仪、更换探头或探头温度有显著变化时,必须进行探头零位补偿。
材料声速校准([校准声速]键)
校准材料声速需使用一个带有己知厚度且材料与被测上件相同的厚试块进行,或者以手动方式输入一个以前确定的材料声速。测量每一种新材料时,都需进行这项操作。
零位校准([校准零位]键)
进行零位校准需使用一个带有己知厚度且材料与被测上件相同的薄试块。与探头零位补偿和材料声速校准不同的是,零位校准操作只有在需要高精度时才有必要进行(度高于±0.10毫米)。只需在使用新的探头和材料组合时进行一次零位校准。当探头温度变化时,不需要重复零位校准,但要进行探头零位补偿。
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