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簡介：白光干涉薄膜厚度測量儀Delta利用薄膜干涉光學(xué)原理，對薄膜進(jìn)行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。

簡介：TF200白光干涉測厚儀利用薄膜干涉光學(xué)原理，對薄膜進(jìn)行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。TF200根據(jù)反射回來的干涉光，用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速...

簡介：MarSurfWI系列是Mahr研發(fā)光學(xué)3D表面輪廓儀產(chǎn)品，是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量的檢測儀器

簡介：Profilm3D/Profilm3D-200價格合理、的光學(xué)輪廓儀

簡介：白光干涉儀是一種對光在兩個不同表面反射后形成的干涉條紋進(jìn)行分析的儀器

簡介：產(chǎn)品簡介DCM8光學(xué)表面測量系統(tǒng)-3d形貌測量顯微鏡什么是3d形貌測量顯微鏡？3D形貌顯微鏡是一種用于材料科學(xué)、機械工程領(lǐng)域的分析儀器，具有圖像快速處理、分析和測量功能，可提供高襯度、高分辨率、大...

簡介：SuperViewW1國產(chǎn)3D白光干涉儀結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器件表面質(zhì)量的...

簡介：SuperViewW1白光干涉三維光學(xué)輪廓儀分辨率0.1μm，重復(fù)性0.1%，應(yīng)用領(lǐng)域廣泛，操作簡便，可自動聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數(shù)，適用于各種產(chǎn)品、部件和材料表面...

簡介：SuperViewW1中圖白光干涉儀采用的是非接觸式光學(xué)測量，在獲得實時數(shù)據(jù)的同時，不會對產(chǎn)品造成任何損傷，從而有效節(jié)約了生產(chǎn)成本，提高了生產(chǎn)效率，并且在線檢測，沒有滯后性，從而減少不合格品，對表...

簡介：TranSpecMicro薄膜厚度測量新的光纖耦合TranSpecMicro薄膜厚度顯微鏡可以將薄膜厚度測量點的大小降到50-100um。測量點的圖像可通過裝在顯微鏡上的特殊彩色相機實時查看。Tr...