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簡(jiǎn)單介紹：110KV高壓介質(zhì)損耗測(cè)試儀系統(tǒng)如果使用儀器內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)電容，則選擇50PF,如果選擇的外接電容與實(shí)際不相等，則測(cè)量結(jié)果會(huì)受影響。

簡(jiǎn)單介紹：介質(zhì)損耗測(cè)試裝置-高壓介損測(cè)試儀利用單片機(jī)和電子技術(shù)進(jìn)行自動(dòng)頻率變換、模/數(shù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)運(yùn)算，達(dá)到抗干擾能力強(qiáng)、測(cè)試速度快、精度高、操作簡(jiǎn)便的功能。

簡(jiǎn)單介紹：介損介質(zhì)損耗測(cè)試儀通用指標(biāo)由計(jì)算機(jī)實(shí)時(shí)采集標(biāo)準(zhǔn)回路電流與測(cè)試回路的電流幅值及其相位差，并由之算出被測(cè)試品的電容容值（Cx）和其介質(zhì)損耗（tg）。

簡(jiǎn)單介紹：異頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀功能體現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與測(cè)量線路組成，被試回路由被試品和測(cè)量線路組成。

簡(jiǎn)單介紹：變頻介質(zhì)損耗介損測(cè)試儀能夠分別使用內(nèi)高壓、外高壓、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)、外標(biāo)準(zhǔn)、正接法、反接法、自激法等多種方式測(cè)試；在外標(biāo)準(zhǔn)外高壓情況下可以做高電壓（大于10kV）介質(zhì)損耗。

簡(jiǎn)單介紹：JSY-05抗干擾式介質(zhì)損耗測(cè)試儀具有操作簡(jiǎn)單、中文顯示、打印、使用方便、無(wú)需換算、自帶高壓，抗干擾能力強(qiáng)，測(cè)試時(shí)間短等優(yōu)點(diǎn);另外,本儀器針對(duì)電容式電壓互感器（CVT）試驗(yàn)困難的特點(diǎn),增設(shè)了外接法測(cè)試,外接標(biāo)準(zhǔn)電容器、調(diào)壓器,

簡(jiǎn)單介紹：江蘇自動(dòng)介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x抗干擾效果好；介質(zhì)損耗測(cè)試儀能有效地消除強(qiáng)烈的電場(chǎng)干擾對(duì)測(cè)量的影響，適用于500kv極其以下電站的強(qiáng)干擾現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)。

簡(jiǎn)單介紹：JSY-05型介質(zhì)損耗測(cè)試儀介損測(cè)試儀結(jié)構(gòu)是一種*的測(cè)量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）。

簡(jiǎn)單介紹：介質(zhì)損耗介損測(cè)試儀為升壓與測(cè)量一體化結(jié)構(gòu)，輸出電壓2.5KV～10KV五檔可調(diào)，以適應(yīng)各種需要，介質(zhì)損耗測(cè)試儀在測(cè)量時(shí)無(wú)需任何外部設(shè)備。接線與QSI電橋相似，但比其方便。

簡(jiǎn)單介紹：JSY-C異頻智能介質(zhì)損耗測(cè)試儀測(cè)試高壓源由儀器內(nèi)部的逆變器產(chǎn)生，經(jīng)變壓器升壓后用于被試品測(cè)試。頻率可變?yōu)?0Hz、47.5Hz\52.5Hz、45Hz\55Hz、60Hz、57.5Hz\62.5Hz、55Hz\65Hz，采用數(shù)字陷波技術(shù)，避開(kāi)了工頻電場(chǎng)對(duì)測(cè)試的干擾，從根本上解決了強(qiáng)電場(chǎng)干擾下準(zhǔn)確測(cè)量的難題。

簡(jiǎn)單介紹：介質(zhì)損耗特性測(cè)試儀:豪泰科技輸出45Hz和55Hz純正弦波，自動(dòng)加壓，高10kV的電壓；自動(dòng)濾除50Hz干擾，適用于變電站等電磁干擾大的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試。

簡(jiǎn)單介紹：超低頻電纜介質(zhì)損耗測(cè)試儀采用最新電力電子元器件和最新 ARM7 單片機(jī)技術(shù)，進(jìn)一步降低了設(shè)備的體積和重量，傻瓜式操作，性能更穩(wěn)定，克服了第一代機(jī)械式升壓器使用壽命短、故障率高、體積大的缺點(diǎn)。

簡(jiǎn)單介紹：介質(zhì)損耗測(cè)試儀江蘇供應(yīng)可實(shí)現(xiàn)CVT的自激法測(cè)試，無(wú)需外置附件，只需一次測(cè)量，C1,C2的電容和介損全部測(cè)出。

簡(jiǎn)單介紹：變頻、異頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀參數(shù)超出范圍都有可能影響測(cè)試精度;最大輸入電壓為AC264V，超過(guò)此值會(huì)造成久性損壞，對(duì)此廠家不予保修;

簡(jiǎn)單介紹：JSY-B異變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀通過(guò)測(cè)量電路分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位差，再由數(shù)字信號(hào)處理器運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法，通過(guò)矢量運(yùn)算得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。

簡(jiǎn)單介紹：數(shù)字化抗干擾/變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀具備輸入電壓波動(dòng)、高壓電流、輸出短路、電源故障、過(guò)壓、過(guò)流、溫度等多重保護(hù)措施，保證了儀器安全、可靠。儀器還具備設(shè)置接地檢測(cè)功能，確保不接地設(shè)備不允許操作啟動(dòng)測(cè)試。

簡(jiǎn)單介紹：介質(zhì)損耗測(cè)試CVT變頻介損測(cè)試儀是絕緣試驗(yàn)中很基本的方法，可以有效地發(fā)現(xiàn)電器設(shè)備絕緣的整體受潮劣化變質(zhì)，以及局部缺陷等。

簡(jiǎn)單介紹：特種變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀——招代理通過(guò)測(cè)量電路分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位差，再由數(shù)字信號(hào)處理器運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法，

簡(jiǎn)單介紹：介損測(cè)試儀-變頻介質(zhì)損耗測(cè)試可外接油杯做精密絕緣油介損試驗(yàn)，可外接固體材料測(cè)量電極做精密絕緣材料介損試驗(yàn)，也可外接高壓標(biāo)準(zhǔn)電容器做高電壓介損試驗(yàn)。

簡(jiǎn)單介紹：異頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀簡(jiǎn)易采用數(shù)字波形分析和電橋自校準(zhǔn)等技術(shù)，配合高精度三端標(biāo)準(zhǔn)電容器，實(shí)現(xiàn)高精度介損測(cè)量。