產(chǎn)品概述：
OPAL-MD 多晶粒測(cè)試站通過準(zhǔn)確、可重復(fù)、靈活和快速的硬件為集成光子學(xué)提供高性能表征。PILOT 軟件套件增強(qiáng)了 OPAL-MD 的硬件功能，提供自動(dòng)化測(cè)試站和質(zhì)量測(cè)量源，可轉(zhuǎn)化為可操作的數(shù)據(jù)。完整的應(yīng)用程序套件是一個(gè)支持完整測(cè)試和測(cè)量流程的平臺(tái)，可幫助用戶更加以數(shù)據(jù)為導(dǎo)向。OPAL-MD與EXFO先進(jìn)的光學(xué)測(cè)量功能相結(jié)合，對(duì)任何第三方儀器開放，是PIC測(cè)試的專用平臺(tái)。
該工作站的硬件包括一個(gè)電動(dòng) 4 軸運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)卡盤定位平臺(tái)，可選配熱控制。它還包括一個(gè)高分辨率頂部視覺系統(tǒng)和一個(gè)遠(yuǎn)心側(cè)面視覺系統(tǒng)。該工作站最多可容納三個(gè)用于光學(xué)或電測(cè)頭的測(cè)頭。
基座運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)和電動(dòng)光學(xué)探頭的高分辨率和可重復(fù)性轉(zhuǎn)化為更低的光學(xué)測(cè)量插入損耗和誤差裕度，可以在多個(gè)芯片和電路上高效重復(fù)，在測(cè)試執(zhí)行過程中無需任何人工干預(yù)。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
在一次執(zhí)行中實(shí)現(xiàn)多晶粒 PIC 表征
帶有可重新配置探頭的靈活設(shè)計(jì)
用于準(zhǔn)備、執(zhí)行和分析 PIC 測(cè)試數(shù)據(jù)的單一軟件套件
超精密光學(xué)頭 – 表面和邊緣耦合的理想選擇