T300V下照式鍍層測厚儀

T300V是佳譜儀器集多年X熒光光譜儀技術(shù)積累與鍍層應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)，專門設(shè)計(jì)研發(fā)的 一 款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測厚 儀，性價(jià)比高、適用性強(qiáng)。

該款采用的FP算法同時搭配高速數(shù)字多道技術(shù)，  應(yīng)對各大小平面件、曲面件金屬鍍層及電鍍液檢測時檢出 限低，性能穩(wěn)定，檢出限可達(dá)0.005um，是一款頗具客戶 好評的C型腔體設(shè)計(jì)的實(shí)用型膜厚儀。

應(yīng)用領(lǐng)域

配置，值得更優(yōu)性能

相比圖2普通接收器，T300V采用了更為的高分辨率探測器，能的將不同元素的信號準(zhǔn)確 解析，針對單層、多層或復(fù)雜合金鍍層的測量，測量精度更高，穩(wěn)定性更好。

儀器參數(shù) 

選擇T300V的理由

檢測實(shí)例