| 展會(huì)名稱(chēng) | AR/VR/MR/XR行業(yè)測(cè)量方案介紹 介紹 |
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| 展會(huì)時(shí)間 | 2025/1/23 15:00~16:00 |
| 舉辦展館 | 蘇州線(xiàn)上講習(xí)會(huì) |
| 展會(huì)介紹 | VR pancake模組的偏光片貼合角、相位差測(cè)量、LCoS液晶盒盒厚檢測(cè)Micro OLED薄膜厚度、彩色濾光片特性評(píng)估、和上述關(guān)聯(lián)的AR/VR/MR/XR終端研發(fā) |
| 展會(huì)名稱(chēng) | DLS測(cè)量手法及技巧介紹 |
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| 展會(huì)時(shí)間 | 2024/12/18 15:00~16:00 |
| 舉辦展館 | 蘇州線(xiàn)上講習(xí)會(huì) |
| 展會(huì)介紹 | 使用ELSZ系列、nanoSAQLA等測(cè)量設(shè)備或?qū)Υ擞信d趣的人。 |
| 展會(huì)名稱(chēng) | 平板狀·薄膜狀樣品的Zeta 電位測(cè)量與應(yīng)用的介紹 |
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| 展會(huì)時(shí)間 | 2024/11/27 15:00~16:00 |
| 舉辦展館 | 蘇州線(xiàn)上講習(xí)會(huì) |
| 展會(huì)介紹 | 大塚電子的 Zeta 電位測(cè)量系統(tǒng)“ELSZ 系列”不僅可以測(cè)量溶液中膠體粒子的 Zeta 電位，也可以測(cè)量平板狀、薄膜狀樣品的 Zeta 電位。通過(guò)這樣的測(cè)量可以評(píng)價(jià)平板狀樣品的表面改質(zhì)狀態(tài)以及液體中粒子的吸著特性。本次研討會(huì)將介紹其應(yīng)用。 |
| 展會(huì)名稱(chēng) | 納米粒度儀的基本操作&故障排除 |
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| 展會(huì)時(shí)間 | 2024/10/23 15:00~16:00 |
| 舉辦展館 | 蘇州線(xiàn)上講習(xí)會(huì) |
| 展會(huì)介紹 |
無(wú)法測(cè)試出預(yù)想的結(jié)果，測(cè)試數(shù)據(jù)波動(dòng)這么大？是設(shè)置環(huán)境的不當(dāng)？運(yùn)用方法不對(duì)？ 還是測(cè)試條件設(shè)置有誤？如果您也有同樣的困惑，請(qǐng)記得務(wù)必參加我司的網(wǎng)絡(luò)學(xué)習(xí)會(huì)。 |
| 展會(huì)名稱(chēng) | AR/VR/MR/XR行業(yè)測(cè)量方案介紹 |
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| 展會(huì)時(shí)間 | 2024年9月25日 15:00~16:00 |
| 舉辦展館 | 蘇州線(xiàn)上講習(xí)會(huì) |
| 展會(huì)介紹 | AR/VR/MR/XR行業(yè)測(cè)量方案介紹 |
| 展會(huì)名稱(chēng) | 顯微分光膜厚儀的晶圓圖案對(duì)位功能介紹 |
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| 展會(huì)時(shí)間 | 2024-08-28 15:00:00～2024-08-28 16:00:00 |
| 舉辦展館 | 蘇州線(xiàn)上講習(xí)會(huì) |
| 展會(huì)介紹 | 大塚電子利用光技術(shù)，開(kāi)發(fā)出各種分析測(cè)量裝置，給客戶(hù)提供尖端測(cè)量技術(shù)支持。 |
| 展會(huì)名稱(chēng) | 晶圓和研磨液靜電相互作用的評(píng)價(jià)方法和半導(dǎo)體制程技術(shù)介紹 |
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| 展會(huì)時(shí)間 | 2024-07-24 15:00:00～2024-07-24 16:00:00 |
| 舉辦展館 | 蘇州線(xiàn)上講習(xí)會(huì) |
| 展會(huì)介紹 | 大塚電子利用光技術(shù)，開(kāi)發(fā)出各種分析測(cè)量裝置，給客戶(hù)提供尖端測(cè)量技術(shù)支持。 |