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測量機器

• 光波動場三次元顯微鏡
  

  MINUK可評價nｍ級的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量。且無需對焦，可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置。
  
• 相位差測量裝置 RETS-100nx New
  

  產品信息 特 點 采用了偏光光學系和多通道分光檢出器 有可對應各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板 安全對策和粒子對策，可對應液晶line內的檢查設備 測量項目...
• 橢偏儀 FE-5000/5000S
  

  產品信息 特點 可在紫外和可見（250至800nm）波長區域中測量橢圓參數 可分析納米級多層薄膜的厚度 可以通過超過400ch的多通道光譜快速測量Ellipso光譜 通過可變反射角測量，可詳細分析...
• 線掃描膜厚儀【離線型】
  

  產品信息 特點 全面高速高精度進行薄膜等面內膜厚不均一性檢測 硬件軟件均為創新設計 作為專業膜厚測定廠商，提供多種支援 實現高精度測量（已取得專利） 實現高速測量（500萬點...
• 小角激光散射儀 PP-1000
  

  PP-1000小角激光散射儀，利用小角激光散射法（Small Angle Laser Scattering，簡稱SALS），可以對高分子材料和薄膜進行原位檢測，實時解析。與SAXS和SANS的裝置相比，檢測范圍更廣。利用偏光Hv散射測量可以進行光學各向異性的評價，解析結晶性薄膜的球晶半徑，偏光Vv散射測量可以進行聚合物混合的相關距離的分析。...
• 高速相位差測量裝置 RE-200
  

  產品信息 特 點 可測從0nm開始的低（殘留）相位差 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.) （相當于世界最快速的0.1秒以下來處理） 無驅動部，重復再現性高 設置的測量項目少，測量簡單...
• MCPD series 在線評估測試系統
  

  本公司的MCPD series在線膠卷評價系統，由于光學式非接觸·非破壞的膜厚，濃度，顏色等的檢查可能。可測定膜厚范圍為65nm～92μm和薄膜到厚膜都對應。（折射率1.5時）測量原理為分光干涉方式，在實現高測量再現性的同時，還支持多層厚度測量。由于采用了獨自算法，可以高速實時監控，所以作為在線膠片監控，我們提出了最適合的系統。...
• 線掃描膜厚儀【在線型】
  

  產品信息 特點 采用線掃描方式檢測整面薄膜 硬件軟件均為創新設計 作為專業膜厚測定廠商，提供多種支援 實現高精度測量（已獲取專利） 實現高速測量 不受偏差影響 可對應寬幅樣...