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OPTM 系列显微分光膜厚仪 测量项目:• 绝.对反射率测量• 多层膜解析• 光学常数分析(n:折射率,k:消光系数)
半导体晶圆缺陷检测仪利用亮场和暗场显微成像技术,通过自动化的图像捕捉以及人工智能分析工具,为晶圆表面缺陷的检测提供了快速且高效的解决方案。
ZETA电位 · 粒径 · 分子量测试系统可测量浓度低的溶液~浓度高的溶液的ZETA电位・粒径及分子量。
AMOS RU120基本紧凑便携式拉曼光谱仪是一款独立的研究仪器,旨在进行光谱测量,其能力达到*端系统的水平。 RU120采用刚性无活动部件设计,无需调整,具有高灵敏度和高光谱分辨率,并配备内置单模激...
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