纳米粒度及Zeta电位分析仪是一种常用于表征纳米颗粒的工具，它能够提供颗粒尺寸、分布以及颗粒表面电荷特性等信息。其工作原理基于光散射和电动力学相互作用。
纳米粒度分析仪主要通过光散射现象来确定样品中颗粒的尺寸和分布。其工作步骤如下：
1、激光发射：仪器会发射一束激光光束至样品中。
2、光散射：激光光束与样品中的颗粒相互作用，并以不同的角度散射出去。
3、探测与分析：仪器收集被散射的光并进行探测。通过检测不同角度上的散射强度，可以计算得到颗粒的大小和分布。
Zeta电位分析仪用于测量液体中颗粒或界面的电荷状态，即颗粒的表面电势。其工作步骤如下：
1、电场应用：样品被置于一个电极中，并施加外部电场。
2、电荷分散：在电场的作用下，颗粒会带上相应的电荷并分散在液体中。
3、核心壳层：颗粒表面的电荷会形成一个电荷双层，其中核心层为吸附的离子，外层为对离子的溶剂化层。
4、Zeta电位测量：通过测量颗粒在电场中的移动速度来计算其Zeta电位。移动速度越快，表示颗粒表面电势越高。
纳米粒度及Zeta电位分析仪常常被结合使用，以提供更全面的颗粒特性信息。它们广泛应用于材料科学、生物医学、环境科学等领域，帮助研究人员深入了解纳米颗粒的尺寸、分布和表面电荷等关键参数，从而指导材料设计和应用研究。