一，大功率光束分析

完善的产品系列，用于检测材料加工中所用的大功率激光光束。

• 光束分析仪 HP 探测器系列在线测量光束轮廓和绝对功率。

• 在激光打印技术中测量 M² 和束腰的精确位置。

• 测量 5 微米至 9 毫米的大功率光束。

二，光束分析仪系列

完整系列的光束质量分析仪提供诸如刀口扫描和层析光束重建等技术，结合非常的宽

光谱范围，单个探测器即可探测 200 – 1600 nm 甚至到 2700 nm 的光束。

• 0.5 微米以下到 45 毫米光束均可探测，配备全套附件（未显示），可用于 M² 测量及其

他尖端用途。

三，光束定位和校准

全系列光束定位系统，包括各种探测器类型，例如：

横向效应探测器、中心开孔型四象限探测器、4x4 mm 至 100 mm 尺寸探测器以及

CCD 探测器。

• 多个探测器同时工作。

• 快速采集，高达 60 kHz。

• 校准后的激光可用作自准直参考轴。

四，自准直系列

提供全线自准直产品，将自准直原理和激光自准直相结合，角度测量精度高，同时以微弧

度级分辨率提供多瞄准线互相对准的功能。

• 此外还提供光束发散角和姿态特性分析。

• 优秀的红外（长达 1550 nm）自准直仪和激光分析望远镜将在业界掀起一场颠覆。